專為超大納米平板顯示器測量而設(shè)計的自動化原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)
隨著對大型平板顯示器原子力顯微鏡計量需求的增加,Park NX-TSH通過利用探針掃描器和龍門式氣浮臺的結(jié)合,克服了針對大型和重型樣品進行納米計量的巨大挑戰(zhàn)。Park NX-TSH能獲得高分辨率的表面粗糙度測量,臺階高度測量和關(guān)鍵尺寸測量。
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專為OLED面板行業(yè)整片測量,LCD測量提供的全自動探針掃描器解決方案 |
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專為新一代顯示器工廠的應(yīng)用需求研發(fā)設(shè)計
Park原子力顯微鏡公司已經(jīng)擴展了原子力顯微鏡設(shè)備的測量尺寸,Park NX-TSH(龍門架設(shè)計平板式探針掃描器)可針對第八代及 大于第八代的所有大型平板顯示器進行測量。專為新一代顯示器工廠的應(yīng)用需求研發(fā)設(shè)計,樣品尺寸可以測2200 mm。 |
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硅片直徑的變化
使用導電原子力顯微鏡,Park NX-TSH 使用可選探針站測量樣品表面,該探針站接觸樣品表面并向小設(shè)備或晶圓片上的設(shè)備提供電流。 Park NX-TSH用于帶有導電原子力顯微鏡的2D編碼器樣品,通過集成微探針站進行電氣缺陷分析。 |
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克服了樣品大小和重量的限制
Park原子力顯微鏡公司新開發(fā)的探針掃描器結(jié)合了X、Y和Z掃描器,可以直接移動到所需測量的點。Park NX-TSH可以在X, Y和Z方向掃描探針頭,X- Y方向可達到100μm X 100 μm和Z方向可達到15 μm ,并有靈活的卡盤,以適應(yīng)超過300毫米的超大超重樣品,用于OLED和LCD大樣品分析。 樣品固定在樣品卡盤上,連接在機架上的探針掃描頭移動到樣品表面的測量位置。 Park NX-TSH的探針掃描頭系統(tǒng)因此克服了樣品固定在樣品卡盤上時候樣品大小和重量的限制。
專為新一代顯示器工廠的應(yīng)用需求研發(fā)設(shè)計,樣品尺寸可以測到2200 mm.
具有閉環(huán)雙伺服系統(tǒng)的100μmx 100μm柔性導向XY掃描器
具有低噪聲位置傳感器的15μm高速Z掃描器
自動測量控制,簡易操作測量更精準!
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aotomatic-softwareNX-TSH配備自動化軟件,使用測量程序便可獲得**的多點分析,并對懸臂梁調(diào)諧、掃描速率、增益和設(shè)定點參數(shù)進行優(yōu)化設(shè)置。 Park人性化設(shè)計的軟件可使用戶自由訪問NX-TSH的全部功能并獲得所需的測量值。 創(chuàng)建新的測量程序其實很簡單,從開始創(chuàng)建到能夠自動化運行只需大約10分鐘的時間,而對創(chuàng)建過的程序進行修改的話也只需不到5分鐘。 |
? 自動,半自動,手動模式三種模式隨時切換控制
? 提供自動化程序的編輯方法
? 實時監(jiān)控測量過程
? 自動分析所獲得的測量數(shù)據(jù)
高精度,高效率 |
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自動換針器(ATX) ATX通過模式識別自動定位針尖,并使用一種新的磁性方法來取放新舊探針。激光光斑通過電動定位技術(shù)自動對準。 |
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電離系統(tǒng)可提供更穩(wěn)定的掃描環(huán)境 我們創(chuàng)新的電離系統(tǒng)可快速有效地去除樣品環(huán)境中的靜電荷。 由于該系統(tǒng)始終生成并保持正負離子的理想平衡,因此可以創(chuàng)建一個極其穩(wěn)定的電荷環(huán)境,幾乎不污染周圍區(qū)域,并且將在樣品處理過程中產(chǎn)生意外靜電的風險降至*低。 |