研究納米技術(shù)的理想選擇
Park NX10為您帶來(lái)*高納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。無(wú)論是從樣品設(shè)定還是到全掃描成像、測(cè)量與分析，Park NX10都可以在保證您專注于創(chuàng)新研究工作的同時(shí)提供高精度的數(shù)據(jù)。
Park SmartScan 智能模式
Park 消除串?dāng)_技術(shù)
Park先進(jìn)的原子力顯微鏡模式
Park NX10 掃描離子電導(dǎo)顯微鏡模塊
Tall Sample 1.5 μm step height
Flat Sample Atomic steps of sapphire wafer
Hard Sample Tungsten film
Soft Sample Collagen fibril
Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector
Park NX10原子力顯微鏡的低噪聲Z探測(cè)器
Z軸探測(cè)器是全新NX系列原子力顯微鏡的核心技術(shù)之一。
它是Park開創(chuàng)的新型應(yīng)變傳感器。憑借著0.2埃的超低噪聲一躍成為行業(yè)內(nèi)噪聲*低的Z軸探測(cè)器。
超低噪聲讓Z軸探測(cè)器可作為默認(rèn)的形貌信號(hào)，全新的NX系列原子力顯微鏡與前幾代的原子力顯微鏡的差異可輕易被觀察到。
如果Z軸探測(cè)器的噪聲過(guò)高，用戶是無(wú)法觀察到藍(lán)寶石晶片的原子臺(tái)階的。
Park NX系列原子力顯微鏡的Z軸探測(cè)器所發(fā)出的高度信號(hào)，其噪聲水平與Z軸電壓形貌相同。
Park NX Series
Park NX Z軸探測(cè)器的噪聲水平
NX10所探測(cè)的藍(lán)寶石晶片形貌
Park XE Series
Park XE Z軸探測(cè)器的噪聲水平
XE-100所探測(cè)的藍(lán)寶石晶片形貌a
Accurate AFM Scan by True Non-Contact? Mode
True Non-Contact? Mode
Tapping Imaging
簡(jiǎn)單的探針和樣品更換
閃電般快速的自動(dòng)近針
自動(dòng)的探針樣品進(jìn)針功能能讓用戶無(wú)需進(jìn)行干預(yù)操作。
通過(guò)監(jiān)測(cè)懸臂接近表面的反應(yīng)，Park NX10能夠在懸臂裝載后十秒內(nèi)開始并自動(dòng)快速完成探針樣品進(jìn)針操作。
高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號(hào)處理使得無(wú)需用戶干預(yù)就能快速接觸樣品表面。
快速精準(zhǔn)的SLD光校準(zhǔn)
憑借我們先進(jìn)的預(yù)校準(zhǔn)懸臂架，懸臂在裝載時(shí)SLD光便已聚焦完畢。此外，作為行內(nèi)唯壹一家可以提供自上而下的同軸視角可以讓您輕松找到光點(diǎn)。由于SLD光垂直照在懸臂上，您可通過(guò)旋轉(zhuǎn)兩個(gè)定位按鈕直觀地在X軸Y軸移動(dòng)光點(diǎn)。這樣您可以在激光準(zhǔn)直頁(yè)面中輕易找到SLD光并將其定位在PSPD上。此時(shí)您只需要稍微調(diào)整到*大化信號(hào)，便可開始獲取數(shù)據(jù)。
Park NX10規(guī)格
樣品尺寸：*大開放空間為100 mm x 100 mm，厚度*大值為20 mm XY位移臺(tái)行程范圍： 20 mm x 20 mm Z位移臺(tái)行程范圍：25 mm 聚焦樣品臺(tái)行程范圍：15 mm
磁學(xué)特性
介電/壓電特性??
· 壓電響應(yīng)譜
· 靜電力顯微鏡（EFM）
機(jī)械性能
· 電化學(xué)池
· 手套箱 · 磁場(chǎng)發(fā)生器 · 傾斜樣品載臺(tái)