半導體檢測
使用DSX1000數字式顯微鏡簡化半導體檢測
使用光學顯微鏡時，如要更改觀察方法，則必須在顯微鏡上加上或去掉濾光片。 大多數數字式顯微鏡均無法使用單個鏡頭執行所有觀察，因此需要對其予以更換， 從而導致觀察位置發生偏移。
大多數數字式顯微鏡均無法使用單個鏡頭執行所有觀察，因此需要對其予以更換，
從而導致觀察位置發生偏移。
DSX1000顯微鏡的多功能控制臺可實現快速、平穩的分析。通過按下控制臺上的按鈕或單擊用戶界面，即可查看縮略圖顯示，其中顯示六種觀察方法下的樣品。這樣即可輕松選擇適用于您應用的*佳圖像，從而縮短檢測時間。
這種缺陷難以發現，因其與背景融合。