如何加大鏡片反射率測定儀環(huán)保工作 鏡片反射率測定儀可**測量當(dāng)前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。是*適合測量曲面反射率、鍍膜評價(jià)、微小部品的反射率測定系統(tǒng)。 加大對鏡片反射率測定儀環(huán)保工作急需的監(jiān)測技術(shù)的科研投入，把環(huán)境監(jiān)測技術(shù)的開發(fā)列入環(huán)境科研重點(diǎn)領(lǐng)域。借助國家各種扶持政策，推進(jìn)環(huán)境監(jiān)測儀器的產(chǎn)業(yè)化和技術(shù)升級。同時(shí)促進(jìn)監(jiān)測儀器科研與生產(chǎn)結(jié)合，鼓勵(lì)環(huán)境監(jiān)測儀器生產(chǎn)企業(yè)、大學(xué)和科研機(jī)構(gòu)采取多種方式開展技術(shù)合作，加快環(huán)境監(jiān)測技術(shù)的成果轉(zhuǎn)化。 USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點(diǎn)： ◆消除背面反射光 采用特殊光學(xué)系，消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。 ◆可測定微小領(lǐng)域的反射率 用對物鏡對焦于小區(qū)域（φ60μm），可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點(diǎn)。 ◆測定時(shí)間短 使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測定，可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。 ◆XY色度圖、L*a*b測定可能 以分光測定法為基準(zhǔn)，從分光反射率情況可測定物體顏色。 ◆可測定的Hard Coat（高強(qiáng)度鍍膜）膜厚 用于涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚（單層膜）。 利用鏡片反射率測定儀市場調(diào)控手段，促進(jìn)環(huán)境監(jiān)測儀器生產(chǎn)企業(yè)的重新組合，逐步改變監(jiān)測儀器生產(chǎn)技術(shù)薄弱、投資分散、低水平重復(fù)、市場競爭力低的狀況，實(shí)現(xiàn)適度規(guī)模化集約化生產(chǎn)，形成一批監(jiān)測儀器生產(chǎn)的骨干企業(yè)。同時(shí)產(chǎn)品要從中低檔向上等儀器設(shè)備上調(diào)整，滿足實(shí)際工作的需求。 鏡片反射率測定儀利用高新技術(shù)改組、改造和提升環(huán)境監(jiān)測技術(shù)與儀器設(shè)備行業(yè)的技術(shù)水平和競爭能力，加速國產(chǎn)化進(jìn)程。應(yīng)提倡在相近技術(shù)水平的情況下，首先采用我國國產(chǎn)監(jiān)測儀器設(shè)備，隨著技術(shù)水平的提高，適當(dāng)?shù)靥岣呶覈鴩a(chǎn)儀器、設(shè)備的價(jià)格，提高利潤空間使企業(yè)有足夠的資金提高制造水平。對國外已有先進(jìn)的成套技術(shù)的監(jiān)測儀器，鼓勵(lì)引進(jìn)、消化、吸收國外的關(guān)鍵技術(shù)，合資生產(chǎn)，再逐步實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)化。 加大對鏡片反射率測定儀環(huán)境監(jiān)測儀器的監(jiān)督管理，建立和完善環(huán)境自動監(jiān)測系統(tǒng)運(yùn)營市場化機(jī)制與資質(zhì)認(rèn)證認(rèn)可制度，消除運(yùn)營市場混亂帶來的負(fù)面影響。適時(shí)完善環(huán)境監(jiān)測儀器的發(fā)展規(guī)劃和技術(shù)政策，明確環(huán)境監(jiān)測儀器發(fā)展方向，指導(dǎo)和規(guī)范環(huán)境監(jiān)測儀器健康發(fā)展，避免企業(yè)的盲從。要建立一批具有良好的技術(shù)基礎(chǔ)和權(quán)威性的技術(shù)中介機(jī)構(gòu)，對環(huán)境監(jiān)測儀器的技術(shù)水平和質(zhì)量狀況進(jìn)行檢測，并向社會公布。對用于執(zhí)法監(jiān)測的環(huán)境監(jiān)測專用儀器實(shí)行“準(zhǔn)入”制度。